符合標準：
AEC-Q100, MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548.GJB597等試驗標準。
適用范圍：
適用于各種封裝形式的人、中、小規(guī)模數(shù)字、模擬、數(shù)模混合集成電路,包括微處理器、邏輯電路、可編程器件、存儲器、A/D、D/A等器件的工作壽命試驗和高溫動態(tài)老煉篩選。
技術特點：
—板—區(qū),可滿足多種同試驗參數(shù)的器件同時老化。
強人的圖形發(fā)生系統(tǒng),64路數(shù)字和4路模擬可編程信號。
可回檢輸入或輸出波形的頻率或幅度。